Μια νέα τεχνική που ανέπτυξαν ερευνητές του University of Maryland επιτρέπει την εξαιρετικά λεπτομερή απεικόνιση της συμπεριφοράς υλικών δύο διαστάσεων, συνδυάζοντας υπέρυθρο φως με μικροσκοπική περιστροφή μιας ειδικής ακίδας. Η μέθοδος, που ονομάζεται infrared torsional force microscopy ή TFM-IR, μπορεί να καταγράψει με σχεδόν νανομετρική ακρίβεια τον τρόπο με τον οποίο μια επιφάνεια παραμορφώνεται όταν […]
